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LMMIS-1型拉伸沖擊試樣測(cè)尺打標(biāo)機(jī)產(chǎn)品手冊(cè)

第一章  設(shè)備簡(jiǎn)介

LMMI-1型拉伸沖擊試樣測(cè)尺打標(biāo)機(jī)（圖1）是集非接觸式精密測(cè)量與激光標(biāo)尺打標(biāo)于一體的廣泛適用于鋼鐵、冶金行業(yè)質(zhì)檢領(lǐng)域的一款專用設(shè)備?？梢詫?duì)符合GB/T228-2002標(biāo)準(zhǔn)的所有形狀拉伸試樣的尺寸測(cè)量（圓柱狀、矩形截面、沖擊試樣等），該設(shè)備測(cè)量精度<20um、標(biāo)尺打標(biāo)精度<10um。該設(shè)備測(cè)量效率約20秒、標(biāo)尺打標(biāo)效率約40秒且測(cè)量與打標(biāo)一次完成，是人工操作效率的十幾倍乃至更高。

第二章  功能簡(jiǎn)介

1.試樣測(cè)尺功能：該設(shè)備可已完成矩形截面拉伸試樣、圓柱狀拉伸試樣沖擊試樣的精密測(cè)量計(jì)算功能，具體如下：

a) 矩形截面拉伸試樣：精確測(cè)量試樣平行部的高度和厚度（三點(diǎn)平均值），進(jìn)而計(jì)算試樣的截面積，再計(jì)算出試樣的標(biāo)距值（符合GB/T228-2010規(guī)范），同時(shí)還可以測(cè)量出試樣的長(zhǎng)度。

圖2 GB/T228-2010 矩形截面拉伸試樣

b) 圓柱型拉伸試樣：精確測(cè)量試樣平行部的平均直徑和試樣的長(zhǎng)度，可以根據(jù)試樣的直徑計(jì)算出標(biāo)樣的標(biāo)距（符合GB/T228-2010規(guī)范）。

圖3 GB/T228-2010圓柱狀拉伸試樣示意圖

圖4 沖擊試樣示意圖

c) 沖擊試樣：精確測(cè)量沖擊試樣的高度和厚度以及沖擊斷口的深度。

2. 試樣標(biāo)尺打標(biāo)功能：

a) 矩形截面拉伸試樣（圖2）打標(biāo)：這類試樣打標(biāo)分自動(dòng)打標(biāo)和手工打標(biāo)方式，自動(dòng)打標(biāo)模式即拉伸試樣的厚度、高度、長(zhǎng)度精密測(cè)量完成后直接利用測(cè)得的參數(shù)用算法生成打標(biāo)方案直接完成試樣的打標(biāo)。自動(dòng)打標(biāo)方式測(cè)量打標(biāo)一次自動(dòng)完成，效率高速度快。手工打標(biāo)模式用戶可以根據(jù)拉伸試樣的幾何尺寸、材質(zhì)預(yù)先生成針對(duì)該類試樣的打標(biāo)方案（打標(biāo)起點(diǎn)坐標(biāo)、標(biāo)記樣式、標(biāo)記間隔、激光能量、打標(biāo)速度）并保存入庫(kù)，打標(biāo)時(shí)只要載入預(yù)設(shè)的打標(biāo)方案即可快速對(duì)特定類拉伸試樣打標(biāo)。

b) 圓柱狀試樣打標(biāo)：圓柱狀試樣打標(biāo)亦分自動(dòng)打標(biāo)和手工打標(biāo)方式，自動(dòng)打標(biāo)模式即圓柱狀拉伸試樣的直徑和長(zhǎng)度精密測(cè)量完成后直接利用測(cè)得的參數(shù)用算法生成打標(biāo)方案直接完成試樣的打標(biāo)。打標(biāo)的內(nèi)容包括標(biāo)距值、試樣編號(hào)以及標(biāo)記線。自動(dòng)打標(biāo)方式測(cè)量打標(biāo)一次自動(dòng)完成，效率高速度快。手工打標(biāo)模式用戶可以根據(jù)圓柱狀長(zhǎng)度、直徑、材質(zhì)預(yù)先生成針對(duì)該類試樣的打標(biāo)方案（打標(biāo)起點(diǎn)坐標(biāo)、標(biāo)記樣式、標(biāo)記間隔、激光能量、打標(biāo)速度）并保存入庫(kù)，打標(biāo)時(shí)只要載入預(yù)設(shè)的打標(biāo)方案即可快速對(duì)特定圓柱狀類拉伸試樣打標(biāo)。

c) 沖擊試樣打標(biāo)：沖擊試樣打標(biāo)亦分自動(dòng)打標(biāo)和手工打標(biāo)方式，自動(dòng)打標(biāo)模式即自動(dòng)測(cè)量沖擊試樣厚度、高度后直接算法生成打標(biāo)方案打標(biāo)。沖擊試樣打標(biāo)的內(nèi)容包括試樣編號(hào)、斷口深度。自動(dòng)打標(biāo)方式測(cè)量打標(biāo)一次自動(dòng)完成，效率高速度快。手工打標(biāo)模式是用戶根據(jù)沖擊長(zhǎng)度、高度、厚度、材質(zhì)預(yù)先生成針對(duì)該類試樣的打標(biāo)方案（打標(biāo)起點(diǎn)坐標(biāo)、標(biāo)記樣式、標(biāo)記間隔、激光能量、打標(biāo)速度）并保存入庫(kù)，打標(biāo)時(shí)只要載入預(yù)設(shè)的打標(biāo)方案即可快速對(duì)特定圓柱狀類拉伸試樣打標(biāo)。沖擊試樣由于規(guī)格統(tǒng)一，可以通過特制的試樣托架實(shí)現(xiàn)批量打標(biāo)，極大提高打標(biāo)效率。

第三章 主要技術(shù)指標(biāo)

本設(shè)備采用高精度高分辨率激光位移傳感器、高精度機(jī)械絲杠和高可靠的控制與測(cè)量系統(tǒng)構(gòu)成，是集光機(jī)電計(jì)輔以軟件算法于一體專用設(shè)備。其測(cè)量精度、技術(shù)指標(biāo)完全滿足各類拉伸沖擊試樣的精密測(cè)量與打標(biāo)需求。
試樣的測(cè)量范圍測(cè)量精度：

a) 矩形截面拉伸試樣范圍：長(zhǎng)度<=500mm，高度<=50mm，厚度<=55mm，平行部>100mm。厚度和高度測(cè)量精度：<10um；長(zhǎng)度測(cè)量精度<100um。

b) 圓柱狀試樣測(cè)量范圍：試樣長(zhǎng)度<140mm，平行部直徑5mm-20mm。直徑測(cè)量精度<10um，長(zhǎng)度測(cè)量精度<100um。

c) 沖擊試樣的測(cè)量范圍：長(zhǎng)度 <=55mm，高度和厚度=10±1mm。高度和厚度測(cè)量精度<10um，斷口深度測(cè)量精度<10um。

第四章 簡(jiǎn)要操作說明

本設(shè)備由操作臺(tái)架、試樣進(jìn)給滑臺(tái)、傳感器測(cè)量滑臺(tái)、打標(biāo)系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)與測(cè)量軟件等系統(tǒng)構(gòu)成。

圖5為設(shè)備的主操作界面，在主操作界面用戶直觀通過操作按鈕、菜單等完成系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置、控制系統(tǒng)連接、設(shè)備標(biāo)樣標(biāo)定、試樣測(cè)量打標(biāo)、手工測(cè)量（針對(duì)非標(biāo)試樣）、手工打標(biāo)、測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)等功能。該設(shè)備操作簡(jiǎn)單易用，常規(guī)試樣用戶只需加載不同類型的試樣后，鼠標(biāo)點(diǎn)擊“”測(cè)量按鈕，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)進(jìn)行試樣進(jìn)給、測(cè)量、計(jì)算試樣標(biāo)距、打標(biāo)、測(cè)量數(shù)據(jù)保存等功能，完成后卸載試樣即完成一次完整測(cè)量打標(biāo)任務(wù)。 此外為增加設(shè)備的適應(yīng)性和使用范圍，還增加了如圖6所示的手工打標(biāo)功能，該功能針對(duì)某一類試樣生成打標(biāo)方案并存儲(chǔ)與方案庫(kù)，需要時(shí)加載打標(biāo)方案，快速完成試樣打標(biāo)參數(shù)的配置進(jìn)而完成試樣打標(biāo)工作，這個(gè)功能可以生成各類試樣的打標(biāo)方案（矩形截面試樣、圓柱狀試樣、沖擊試樣甚至其它異型試樣）。

圖5 設(shè)備測(cè)量操作出界面

圖6 手工打標(biāo)功能界面

圖7所示的是手工測(cè)量功能界面，該功能可有效擴(kuò)展本設(shè)備的適用范圍，可對(duì)非標(biāo)、異型試樣進(jìn)行測(cè)量

圖7 手工測(cè)量功能界面